第81章 龙芯硅片归来性能初探（第2页）

foundry”

和“qimingxin

longxin-1

es”

字样的防静电包装盒被小心翼翼地打开，露出里面第一批封装好的工程样品（engineering

samples，

es）时，所有人的目光都聚焦在了那些比“启明一号”

略大一些、引脚也更密集的黑色芯片上。

“开始吧。”

顾维钧深吸一口气，声音沉稳，但微微颤抖的手指还是暴露了他内心的不平静。

一位年轻的测试工程师小心翼翼地将第一颗“龙芯一号”

es芯片，放置在测试板的zif（零插拔力）插座上，轻轻扣下压杆。

连接好所有的测试线缆和接口。

“检查电源电压，确认极性无误。”

顾维钧一丝不苟地指挥着。

“电源电压正常，3.3v，1.8v核心电压稳定。”

“时钟信号输入正常，频率54mhz。”

“jtag调试接口连接正常。”

“好，准备上电！”

顾维钧的目光扫过屏幕上的各项参数，确认无误后，下达了指令。

工程师按下了电源开关。

实验室里瞬间安静下来，只剩下仪器设备散热风扇的轻微嗡鸣声。

所有人的目光都死死地盯着测试平台上的指示灯和示波器的屏幕。

几秒钟过去了，没有任何异常。

电源指示灯稳定地亮起，示波器上捕捉到的芯片复位信号波形正常，静态电流也在预期的微安级别。

“上电初步正常！”

工程师报告道，声音中带着一丝如释重负。

“尝试通过jtag读取device

id。”

陈家俊立刻接续指令。

调试软件的界面上，一行命令被敲下。

片刻之后，屏幕上显示出了一串预设的、代表“龙芯一号”

身份的16进制编码。

“device

id读取成功！

jtag通路正常！”

“尝试初始化ddr

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