第1008章 随机数生成器测试优化

卷首语

1965

年

2

月，“73

式”

密钥动态生成器原型初步成型后，研发团队敏锐意识到：随机数作为动态密钥

“不可预测性”

的核心来源，其性能直接决定密钥安全等级

——

虽前期基础测试中随机数重复率、游程特性达标，但在野战复杂电磁环境下，仍存在被敌方通过统计分析预测的潜在风险。

此时，通过

1000

次规模化测试定位短板、优化算法，成为提升随机数不可预测性的关键举措。

这场为期

10

天的测试优化，不仅将随机数的抗预测能力提升

30%，更形成

“测试

-

分析

-

优化

-

验证”

的随机数性能迭代范式，为

“73

式”

动态密钥的实战安全性筑牢最后一道防线。

一、测试优化的背景与核心目标

随机数生成器原型（基于

3ag1

晶体管噪声源）虽通过前期基础测试（10

万组随机数重复率

0.0001%），但陈工团队在电磁干扰模拟测试中发现：当遭遇

500vm

强电磁信号时，随机数序列中

“0”

“1”

分布偏差从

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